Россия
Россия
Воронежская область, Россия
Воронежский государственный лесотехнический университет им. Г.Ф. Морозова
Рассматриваются вопросы создания современной микроэлектроники специального назначения и условия ее эксплуатации. Определены тенденции развития микросхем космического назначения и их влияния на радиационную стойкость. В работе приведены основные физические явления, доминирующие среди радиационных эффектов в последнее время. Уменьшение характерных размеров элементов СБИС приводит к появлению новых физических эффектов, для которых необходимо разрабатывать новые модели, или усовершенствовать существующие.
микросхема, радиационное воздействие, микроэлектроника, СБИС, космическое пространство
1. Автоматизация управления и проектирования в электронной промышленности : монография / Ю.К. Фортинский, В.Е. Межов, В.К. Зольников, П.П. Куцько. - Воронеж: ВГУ, 2008. - 275 с.
2. Анциферова, В.И. Анализ подготовки специалистов по радиоэлектронике для научно-производственных и коммерческих структур в современных условиях / В.И. Анциферова, В.К. Зольников // Моделирование систем и процессов. - 2009. - № 3-4. - С. 5-12.
3. Меерсон, В.Э. Моделирование потоков заряженных частиц космического пространства / В.Э. Меерсон, С.С. Веневитина, Е.Д. Богачева // Моделирование систем и процессов. - 2017. - Т. 10, № 3. - С. 32-39.
4. Меерсон, В.Э. Модели прохождения заряженных частиц космического пространства через защиту космической аппаратуры / В.Э. Меерсон, С.С. Веневитина, Г.В. Киселев // Моделирование систем и процессов. - 2017. - Т. 10, № 3. - С. 40-48.
5. Архитектура нейропроцессоров для систем автоматического управления подвижными объектами / В. М. Антимиров, В. К. Зольников, В. В. Лавлинский, В. П. Крюков, А. Ю. Кулай, А. Л. Савченко // Моделирование систем и процессов. - 2017. - Т. 10, № 4. - С. 4-10.
6. Анализ проблем моделирования элементов КМОП БИС / В. К. Зольников, С. А. Евдокимова, А. В. Фомичев, В. Н. Чикин, А. В. Ачкасов, В. Ф. Зинченко // Моделирование систем и процессов. - 2018. - Т. 11, № 4. - С. 20-25.
7. Схемотехнический базис и проверка микросхем на работоспособность / В. К. Зольников, С. А. Евдокимова, А. В. Фомичев, В. Н. Чикин, А. В. Ачкасов, В. Ф. Зинченко // Моделирование си-стем и процессов. - 2018. - Т. 11, № 4. - С. 25-30.
8. Ягодкин, А.С. Современные САПР для электронной компонентной базы космического назначения / А.С. Ягодкин // Моделирование систем и процессов. - 2018. - Т. 11, № 4. - С. 92-97.
9. Результаты исследований ультрабыстрых выпрямительных диодов при воздействии радиации / В. К. Зольников, А. И. Яньков, А. Ю. Кулай, А. Л. Савченко, А. С. Ягодкин, В. И. Анциферова, С. А. Евдокимова, Т. В. Скворцова, Е. А. Маклакова, А. А. Илунина, О. В. Квасов // Моделирование систем и процессов. - 2019. - Т. 12, № 3. - С. 42-47.
10. Исследование линейных стабилизаторов напряжения на стойкость к воздействию специальных факторов / В. К. Зольников, А. И. Яньков, К. А. Чубур, А. Ю. Кулай, В. П. Крюков, И. И. Струков, С. А. Гречаный, С. А. Евдокимова, А. С. Ягодкин, В. И. Анциферова, О. В. Квасов // Моделирование систем и процессов. - 2019. - Т. 12, № 3. - С. 48-53.
11. Кононов, В.С. Накристальное резервирование блоков АЦП и ЦАП специального назначения / В.С. Кононов // Моделирование систем и процессов. - 2019. - Т. 12, № 3. - С. 53-58.
12. Создание тестового окружения и порядок загрузки тестов в процессе проектирования микросхем / К. А. Чубур, А. Ю. Кулай, А. Л. Савченко, К. В. Зольников, А. Е. Гриднев // Моделирование систем и процессов. - 2020. - Т. 13, № 1. - С. 83-87.
13. Разработка материалов и радиационно-стойкой ЭКБ на основе КНС/КНИ структур / И.И. Струков, С.В. Гречаный, А.С. Ягодкин, А.Н. Черников // Моделирование систем и процессов. - 2020. - Т. 13, № 2. - С. 72-76.
14. Особенности технологического процесса изготовления микросхем космического назначения по технологии КМОП КНС / В.К. Зольников, С.А. Евдокимова, И.В. Журавлева, Е.А. Маклакова, А.А. Илунина // Моделирование систем и процессов. - 2020. - Т. 13, № 3. - С. 53-58.
