Россия
Россия
В статье предложена методика расчетно-экспериментальной оценки срока службы изделий в заданных радиационных условиях космического пространства. Описанная методика оценки ресурса изделий учитывает аддитивный характер ионизационных и структурных эффектов в заданных радиационных условиях космического пространства. Данная методика включает экспериментальный и расчетный этапы.
микроэлектроника, СБИС, радиационное воздействие, космическое пространство, ионизационные и структурные эффекты, биполярная технология
1. MIL-STD-883J. Method 1019.9. Ionizing Radiation (Total Dose) Test Pro-cedure. - 2013.
2. ESCC Basic Specification No. 22900. Total Dose Steady-State Irradiation Test Method. - 2010.
3. Petrov, A. Radiation testing of optocouplers intended for space application using the consecutive modelling of ionizing and displacement damage effects / A. Pe-trov, K. Tapero, G. Mosina // ISROS 2016 Proceedings, Otwock, Poland, 6-9 June 2016.
4. Таперо, К. И. Определение срока службы оптронов в условиях космического пространства с использованием последовательного моделирования ионизационных эффектов и эффектов структурных повреждений / К. И. Таперо, А. С. Петров, Г. М. Мосина // Вопросы атомной науки и техники. Сер.: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. - 2016. - Вып. 3. - С. 23-29.
5. Проектирование интерфейсов сбоеустойчивых микросхем / В.К. Зольников, Н.В. Мозговой, С.В. Гречаный, И.Н. Селютин, И.И. Струков // Моделирование систем и процессов. - 2020. - Т. 13, № 1. - С. 17-24.
6. Зольников, В.К. Балансировка нагрузки в облачных вычислениях / В.К. Зольников, О.В. Оксюта, Н.Ф. Даюб // Моделирование систем и процессов. - 2020. - Т. 13, № 1. - С. 25-32.
7. Зольников, В.К. Моделирование и анализ производительности алгоритмов балансировки нагрузки облачных вычислений / В.К. Зольников, О.В. Оксюта, Н.Ф. Даюб // Моделирование систем и процессов. - 2020. - Т. 13, № 1. - С. 32-39.
8. Методы контроля надежности при разработке микросхем / К.В. Зольников, С.А. Евдокимова, Т.В. Скворцова, А.Е. Гриднев // Моделирование си-стем и процессов. - 2020. - Т. 13, № 1. - С. 39-45.
9. Системы на кристалле (СнК) и влияние данной технологии на создание современной ЭКБ / В.К. Зольников, С.А. Евдокимова, М.Ю. Арзамасцев, А.Е. Гриднев // Моделирование систем и процессов. - 2020. - Т. 13, № 4. - С. 19-23.
10. Макаренко, Ф.В. Сужение спектра излучения GaAs светодиода за счет применения светофильтра InP (Ag) / Ф.В. Макаренко, А.В. Арсентьев, К.В. Зольников // Моделирование систем и процессов. - 2020. - Т. 13, № 4. - С. 32-38.
11. Юров, А.Н. Организация технических условий и информационных данных в 3D моделях программных систем / А.Н. Юров, В.В. Сокольников, К.С. Меремьянин // Моделирование систем и процессов. - 2020. - Т. 13, № 4. - С. 83-89.
12. Зольников, В.К. Верификация проектов и создание тестовых последовательностей для проектирования микросхем / В.К. Зольников, С.А. Евдокимова, Т.В. Скворцова // Моделирование систем и процессов. - 2019. - Т. 12, № 1. - С. 10-16.
13. Зольников, В.К. Методы верификации сложно функциональных блоков в САПР для микросхем глубоко субмикронных проектных норм / В.К. Зольников, С.А. Евдокимова, Т.В. Скворцова // Моделирование систем и процессов. - 2019. - Т. 12, № 1. - С. 16-24.
14. Создание базиса для микросхем сбора и обработки данных / В.А. Скляр, А.В. Ачкасов, К.В. Зольников, И.И. Струков, К.А. Чубур // Моделирование систем и процессов. - 2018. - Т. 11, № 2. - С.66-71.
15. Защита микропроцессоров от одиночных сбоев / В.А. Смерек, В.М. Антимиров, А.Ю. Кулай, А.Л. Савченко // Моделирование систем и процессов. - 2018. - Т. 11, № 2. - С.71-77.
